Tan, T.; Liu, Z.*; Lu, H.; Liu, W.; Tian, H., Structure and Optical Properties of HfO2 Thin Films on Silicon after Rapid Thermal Annealing. Optical Materials 2010, 32(3), 432-435;
发布时间:2019-03-08
点击次数:
地址:湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 邮政编码:430074
访问量:次 | 开通时间:-- | 最后更新时间:-- 手机版