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程伟明

副教授    博士生导师    硕士生导师

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  • 性别: 男
  • 在职信息: 在职
  • 所在单位: 集成电路学院
  • 学历: 研究生(博士)毕业
  • 学位: 博士学位

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研究方向

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铁酸铋多铁忆阻器

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BiFeO3(BFO)罕见室温多铁材料,但由于其存在Bi易挥发以及Fe价态不稳定导致漏电流较大与功耗较高等问题,限制了其在非易失存储领域的应用。而在Bi位引入离子半径相近的元素用于抑制Bi元素挥发以及在Fe位掺杂过渡金属元素用于稳定Fe离子价态可以有效提高BFO的阻变性能。此外,在BFO忆阻器件中使用合理的电极材料可以进一步调控器件的忆阻特性,丰富BFO的应用场景。

我们分别以SrRuO3(SRO)、TiN以及Nb掺杂的SrTiO3(NSTO)为底电极材料,制备掺杂型BFO忆阻器,探究衬底材料对BFO器件阻变机制及性能的影响。在SRO衬底上外延La掺杂的BFO(LBFO)具有O/R混相结构,展现出极低的操作电压和良好的数据保持力。Mn掺杂BFO(BFMO)薄膜与TiN底电极之间形成了TiOxNy储氧层,该类型的器件在Endurance测试中脉冲宽度低至20 ns,使得器件的功耗低至4.5×10-7 μJ。此外,对比以SRO为底电极的BFO忆阻器件,TiOxNy储氧层进一步改善了BFMO薄膜内部氧空位,导致BFMO/TiN器件的整体阻值更高,使得阵列线阻对忆阻器的影响更小。最后,设计BFMO/NSTO忆阻器结构,利用BFMO与NSTO较为接近的功函数,构建较小的肖特基势垒,制备了具有模拟型阻变特征的BFMO/NSTO忆阻器,该器件的具有良好的多值特性,在LTP/LTD以及非线性度方面表现良好,在STDP学习法则中,展现出高度的双边对称性,其时间常数低至~80 ns,较生物突触减小了约5个数量级。近两年来,已在Applied Physics Letters、IEEE Transactions on Electron Devices、Ceramics International等重要期刊发表论文4篇。

   后续计划拟研制阻值渐变可控、一致性高的BiFeO3多铁忆阻器件并探索其在神经网络中的应用探求衬底材料与BFO晶格应力失配、掺杂元素类型及浓度BFO薄膜晶格结构铁电极化强度、磁性与阻变特性的内在关系,从BFO薄膜的精细晶体结构出发,综合分析氧空位浓度分布铁电畴结构与界面肖特基势垒等因素,阐释BFO器件阻态切换的机制;搭建神经元电路,在正、负电压激励下实现对称的积分、点火行为的模拟;表征BFO器件的记忆长时程增强/抑制、脉冲时序依赖可塑性等突触特性,设计基于 BFO 器件的突触-神经元整合方案,面向高精度图像识别任务,构建全忆阻脉冲神经网络。