用于亚毫米级样品面内热导率测量的光学装置及测量方法
发布时间：2025-03-20
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- 专利类型：
- 发明
- 申请号：
- 202111527522.3
- 授权号：
- CN 114252476 B
- 发明人数：
- 1
- 申请日期：
- 2021-12-14
- 公开日期：
- 2022-03-29
研究员（自然科学） 博士生导师 硕士生导师
邮编：430074
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