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A performance degradation and lifetime prediction model for thermoelectric device under thermal cycling
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第一作者：Zuyu,Junhao Liu,Yan,Zeyu,Liu
通讯作者：Limei,Zhichun,Limei Liu,Shen
合写作者：Ding,Yujia Wang,Zhijie Wang,Liu,Zun
发表刊物：Applied Thermal Engineering
卷号：274
页面范围：126655
ISSN号：1873-5606
DOI码：10.1016/j.applthermaleng.2025.126655
发表时间：2025-01-01