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一种大量程范围的折射率测量装置及方法
Release time:2021-04-12 Hits:
Affilication of Author(s): 光学与电子信息学院
School Sign: 华中科技大学
Patent Applicant: 华中科技大学
Disigner of the Invention: 阮丛喆,LIU HAO,郭文军,Wei Li,Xia Min,叶骏伟,Kecheng Yang
Type of Patent: 发明专利
Authorization number: 201310375467X
Number of Inventors: 7
Application Date: 2013-08-26
Authorization Date: 2016-05-25
First Author: Kecheng Yang