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一种基于微流控芯片粒子捕获式的单粒子散射测量方法
Release time:2021-04-12 Hits:
Affilication of Author(s): 光学与电子信息学院
School Sign: 华中科技大学
Patent Applicant: 华中科技大学
Disigner of the Invention: 宫宝玉,戴杰,Xia Min,Kecheng Yang
Type of Patent: 发明专利
Authorization number: 2015104819929
Number of Inventors: 4
Application Date: 2015-08-07
Authorization Date: 2017-12-12
First Author: Kecheng Yang