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提高光电传感阵列测量折射率过程中数据处理精度的方法
Release time:2021-04-12 Hits:
Affilication of Author(s): 光学与电子信息学院
School Sign: 华中科技大学
Patent Applicant: 华中科技大学
Disigner of the Invention: Wei Li,Kecheng Yang,Xia Min,罗运,郭文平
Type of Patent: 发明专利
Authorization number: 2018108500028
Number of Inventors: 5
Application Date: 2018-07-28
Authorization Date: 2020-06-16
First Author: 郭文平