一种光斑大小的测量装置和方法, 发明专利、中国、赵彦立、华中科技大学、ZL 2013 1 0585762.8;
一种GaN基发光二极管的制备方法、发明专利、中国、赵彦立、华中科技大学、ZL200910060799.2、20；
