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HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY

LI ZHEN

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  • [1] 一种精确控制微纳尺寸相变材料非晶化率连续变化的方法，zl201310698161.8.
  • [2] 一种相变存储器芯片测试方法及其系统，zl201110188355.4.
  • [3] 基于数字双向脉冲对相变存储单元非晶态和晶态剪裁的方法，zl201510462748.8.
  • [4] 一种相变存储器热串扰测试方法，zl201410256649.x.
  • [5] 考虑热量积累效应的相变存储器单元SPICE模型系统及其应用，zl201310410747.x.
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