何强，博士，华中科技大学集成电路学院副教授。2013年本科毕业于华中科技大学光电学院，2018年3月获华中科技大学微电子学与固体电子学博士学位，博士期间在牛津大学材料系联合培养。博士毕业后在华为终端公司担任高级工程师，并全面负责终端存储器测试业务，曾获得华为公司总裁个人奖、金牌团队、武研所所长奖等。目前兼任中国材料与试验标准化委员会委员。一直从事基于硫系相变材料的光电子器件研究工作，研究方向包括相变存储器和相变材料的可编程光子器件等。主持GF某重点项目千万级课题、GF-173基金、国家自然科学基金青年项目、省部级纵向及华为公司合作项目共10项，获批项目经费超2000万元，主持发布多项公司级标准及相变存储器测试方法团体标准，在iScience, IEEE EDL, APL等期刊上发表SCI论文18篇，已授权/受理发明专利10+项。

从企业回流高校，拥抱产业，探索新的育人方法，秉持“卓越，创新，开放，协同”的育人理念，获评校优秀班主任。与业界头部企业保持密切互动，目前已毕业研究生去向华为、中兴等企业。

目前的研究方向和兴趣主要聚焦相变材料可编程光器件和存储器测试技术。

在相变可编程光器件方向，我们关注相变材料在可见光至红外波段对光的调控规律，并构建一系列新原理器件，如动态可调滤色片、彩色电子纸、片上集成光开关、激光高分辨彩色打印等。

在存储器测试方向，目前关注基于脉冲调制的相变存储器操作方法优化，达到通过操作方法优化的手段实现存储器性能的持续改善；同时，团队研发了用于存储器测试的测试系统与设备，个别指标能够对标业界领先的设备。

详情见个人主页：http://ismd.hust.edu.cn/info/1077/2486.htm