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当前位置： Chinese homepage >> 科学研究 >> 论文成果Multi-level RTN with Certain Regularities in Oxide-RRAM: Experiments, Defect Dynamics and 3D Multi-Physics Modeling
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论文类型：文章
第一作者：穆德江,刘盼
通讯作者：王兴晟
合写作者：周子健,蔡子非,张健,薛堪豪,纪志罡,缪向水
发表刊物：2025 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
收录刊物：EI
发表时间：2024-12-18